规范编号：SJ 20147.1-1992

规范简介

本规范规则了用x射线荧光光谱法丈量银以及银合金镀覆层厚度的办法。它是’一种非接触式的无损丈量办法。本规范实用于银以及银合金镀覆层厚度的丈量，也实用于罕用金属镀覆层厚度的丈量。该办法还可同时丈量出外表镀覆层以及两头层的厚度。

英文称号： Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry

中标分类： 医药、卫生、休息维护>>医药、卫生、休息维护综合>>C01技巧治理

公布部门： 中国电子产业总公司

公布日期： 1992-11-19

施行日期： 1993-05-01

提出单元： 中国电子产业总公司科技品质局

归口单元： 中国电子技巧规范化钻研所

草拟单元： 中国华晶电子团体公司等单元

草拟人： 全庆霄、赵长春、顺兴生等

页数： 9页

出书社： 电子产业出书社

出书日期： 1993-04-01