中文规范称号: 半导体器件.机器以及气象实验办法.第11局部:温度的急速变动.双液电镀槽法

　　替代规范号: ,

　　中国规范分类号: L40

　　规范存眷次数: 41次

　　规范上传日期: 2011/1/15

　　公布日期: 2003-01

　　英文规范称号: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method

　　采纳国内规范号: OEVE/OENORM EN 60749-11-2003,IDT,

　　规范种别: 国内电工委员会规范